環(huán)規(guī)也叫校正環(huán)規(guī),是用于校正量具的不足的一種具有特定尺寸及屬性的圓環(huán)。環(huán)規(guī)按照外觀上可以分為:光面環(huán)規(guī)、螺紋環(huán)規(guī)、平行螺紋環(huán)規(guī)、美制螺紋環(huán)規(guī) 、管用螺紋環(huán)規(guī)、 管用美制螺紋環(huán)規(guī)、 管用英制螺紋環(huán)規(guī) 、...
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DM45523 為東京精密輪廓測(cè)量設(shè)備配套球頭小孔替換測(cè)針,適配 KT?32 測(cè)臂,CONTOUR、S?NEX 輪廓系列主機(jī),用于狹小孔腔內(nèi)部幾何采集,不優(yōu)先用于粗糙度檢測(cè)。測(cè)針采用紅寶石球接觸結(jié)構(gòu),...
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DM45091 為東京精密輪廓測(cè)量設(shè)備配套加長(zhǎng)偏置式替換測(cè)針,適配 KT?32 測(cè)臂,CONTOUR、S?NEX 輪廓系列主機(jī),用于深度較大且周邊存在結(jié)構(gòu)遮擋位置的輪廓與粗糙度采集。測(cè)針接觸結(jié)構(gòu)采用金...
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DM45087 為東京精密輪廓測(cè)量設(shè)備配套偏置式替換測(cè)針,適配 KT?32 測(cè)臂,CONTOUR、S?NEX 輪廓系列主機(jī),用于受結(jié)構(gòu)遮擋的工件位置開展輪廓與粗糙度采集。測(cè)針接觸結(jié)構(gòu)采用金剛石材質(zhì),帶...
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DM45085 為東京精密輪廓測(cè)量設(shè)備配套長(zhǎng)行程小孔替換測(cè)針,適配 KT?32 測(cè)臂,CONTOUR、S?NEX 輪廓系列主機(jī),可完成小孔內(nèi)腔幾何輪廓與粗糙度采集。測(cè)針接觸結(jié)構(gòu)采用金剛石材質(zhì),加長(zhǎng)懸臂...
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DM45082 為東京精密輪廓測(cè)量設(shè)備配套小孔測(cè)量替換測(cè)針,適配 KT?32 測(cè)臂,CONTOUR、S?NEX 輪廓系列主機(jī),用于小孔內(nèi)部腔體幾何輪廓采集,可兼顧粗糙度檢測(cè)。測(cè)針接觸結(jié)構(gòu)采用金剛石材質(zhì)...
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DM45509 為東京精密輪廓測(cè)量設(shè)備配套深腔長(zhǎng)桿替換測(cè)針,適配 KT?32 測(cè)臂,CONTOUR、S?NEX 輪廓系列主機(jī),用于深度較大的腔體、沉孔內(nèi)部幾何輪廓采集,不優(yōu)先用于粗糙度檢測(cè)。測(cè)針接觸結(jié)...
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DM45504 為東京精密輪廓測(cè)量設(shè)備配套扭曲面專用替換測(cè)針,適配 KT?32 測(cè)臂,CONTOUR、S?NEX 輪廓系列主機(jī),用于扭曲面、螺旋類工件幾何輪廓采集,不優(yōu)先用于粗糙度檢測(cè)。測(cè)針接觸結(jié)構(gòu)采...
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DM45506 為東京精密輪廓測(cè)量設(shè)備配套短款通用替換測(cè)針,適配 KT?32 測(cè)臂,CONTOUR、S?NEX 輪廓系列主機(jī),用于空間受限的淺型腔體、小型工件幾何輪廓采集,不優(yōu)先用于粗糙度檢測(cè)。測(cè)針接...
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DM83531 為東京精密輪廓測(cè)量設(shè)備配套短 L 型側(cè)向替換測(cè)針,適配 E?DH?S60A 輪廓檢出器,CONTOUR、S?NEX 輪廓系列主機(jī),用于淺腔內(nèi)部側(cè)向壁面幾何輪廓采集,不優(yōu)先用于粗糙度檢測(cè)...
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DM83528 為東京精密輪廓測(cè)量設(shè)備配套超細(xì)長(zhǎng)深孔替換測(cè)針,適配 E?DH?S60A 輪廓檢出器,CONTOUR、S?NEX 輪廓系列主機(jī),用于孔徑狹小的超深腔體內(nèi)部幾何輪廓采集,不優(yōu)先用于粗糙度檢...
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DM83525 為東京精密輪廓測(cè)量設(shè)備配套側(cè)向深腔替換測(cè)針,適配 E?DH?S60A 輪廓檢出器,CONTOUR、S?NEX 輪廓系列主機(jī),用于深度較大腔體內(nèi)部側(cè)向壁面幾何輪廓采集,不優(yōu)先用于粗糙度檢...
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DM83522 為東京精密輪廓測(cè)量設(shè)備配套加長(zhǎng)小孔替換測(cè)針,適配 E?DH?S60A 輪廓檢出器,CONTOUR、S?NEX 輪廓系列主機(jī),用于孔徑偏小同時(shí)深度偏大的孔腔內(nèi)部幾何輪廓采集,不優(yōu)先用于粗...
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DM83502 為東京精密輪廓測(cè)量設(shè)備配套大行程通用替換測(cè)針,適配 E?DH?S60A 輪廓檢出器、CONTOUR、S?NEX 輪廓系列主機(jī),主打大行程、大落差工件幾何輪廓采集,不優(yōu)先用于粗糙度檢測(cè)。...
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DM45524 為東京精密輪廓測(cè)量設(shè)備配套深小孔專用替換測(cè)針,適配 KT?32 測(cè)臂,CONTOUR、S?NEX 輪廓系列主機(jī),針對(duì)開口狹小的深孔、沉孔內(nèi)腔開展幾何輪廓采集,不優(yōu)先用于粗糙度檢測(cè)。測(cè)針...
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