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DM45523 為東京精密輪廓測量設備配套球頭小孔替換測針,適配 KT?32 測臂,CONTOUR、S?NEX 輪廓系列主機,用于狹小孔腔內部幾何采集,不優先用于粗糙度檢測。測針采用紅寶石球接觸結構,細長桿體,適合開口偏小的孔內檢測工況。拆裝操作簡單,信號輸出穩定,可采集小孔內部臺階、孔底、孔內過渡圓弧輪廓數據,滿足機加工行業常規質檢的使用需求。
更新時間:2026-08-10
產品型號:DM45523
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DM45091 為東京精密輪廓測量設備配套加長偏置式替換測針,適配 KT?32 測臂,CONTOUR、S?NEX 輪廓系列主機,用于深度較大且周邊存在結構遮擋位置的輪廓與粗糙度采集。測針接觸結構采用金剛石材質,帶 25mm 偏移量加長彎折結構,可繞開周邊實體結構干涉。拆裝操作簡單,信號輸出穩定,可采集受遮擋深腔位置的輪廓與粗糙度數據,滿足機加工行業常規質檢的使用需求。
更新時間:2026-08-10
產品型號:DM45091
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DM45087 為東京精密輪廓測量設備配套偏置式替換測針,適配 KT?32 測臂,CONTOUR、S?NEX 輪廓系列主機,用于受結構遮擋的工件位置開展輪廓與粗糙度采集。測針接觸結構采用金剛石材質,帶 25mm 偏移量彎折結構,可避開工件本體結構干擾。拆裝操作簡單,信號輸出穩定,可采集避讓空間受限位置的輪廓與粗糙度數據,滿足機加工行業常規質檢的使用需求。
更新時間:2026-08-10
產品型號:DM45087
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DM45085 為東京精密輪廓測量設備配套長行程小孔替換測針,適配 KT?32 測臂,CONTOUR、S?NEX 輪廓系列主機,可完成小孔內腔幾何輪廓與粗糙度采集。測針接觸結構采用金剛石材質,加長懸臂桿體,適配深度偏大的小孔內部檢測。拆裝操作簡單,信號輸出穩定,可采集深小孔內部臺階、孔底、孔內過渡圓弧的輪廓與粗糙度數據,滿足機加工行業常規質檢的使用需求。
更新時間:2026-08-10
產品型號:DM45085
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DM45082 為東京精密輪廓測量設備配套小孔測量替換測針,適配 KT?32 測臂,CONTOUR、S?NEX 輪廓系列主機,用于小孔內部腔體幾何輪廓采集,可兼顧粗糙度檢測。測針接觸結構采用金剛石材質,懸臂式桿體,適合孔徑偏小的內部空間檢測。拆裝操作簡單,信號輸出穩定,可采集小孔內部臺階、孔底、孔內過渡圓弧輪廓與表面粗糙度數據,滿足機加工行業常規質檢的使用需求。
更新時間:2026-08-10
產品型號:DM45082
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